所謂離子電遷移是指在潮濕條件下，電子整機(jī)產(chǎn)品中的基板與電子器件之間或線路之間由于存在線間分布電場，會(huì)使處于兩極之聞盼某些金屬離子發(fā)生電場作用下的遷移，即陽離子向處在陰極狀器的部位移動(dòng)，陰離子會(huì)向處于陽極狀態(tài)的部位移動(dòng)。離子在電路聞的這種電遷移有極大危險(xiǎn)，輕則引起設(shè)備故障，重則會(huì)因引起短路事故而導(dǎo)致火災(zāi)。

為了研究產(chǎn)生離子遷移故障的機(jī)理，在實(shí)驗(yàn)室中要模擬離子遷移過程。通常采用的方法有兩種，一種是蒸汽試驗(yàn)法，這是將被測試片放入盛有過飽和鹽溶液的容器內(nèi)，在高濕度和一定溫度下使試片發(fā)生離子遷移現(xiàn)象，然后通過與鍍片連接的超絕緣電阻器對試片的絕緣性能的變化進(jìn)行測量。

另一種方法是水溶液試驗(yàn)，所用試片是金屬電極。將兩個(gè)電極分別與電源的正負(fù)極相連，在電極間滴人去離子水，模擬結(jié)露狀態(tài)。再用相機(jī)拍攝在電場作用下不同時(shí)間、不同條件下的電遷移情形。

用這種方法可以直觀地觀測到離子遷移的物理形態(tài)，可以測到不同時(shí)間下絕緣電阻值變化，直到兩極間最終形成短路。