1、濕度控制≤1%RH目的：戒備正負(fù)極片卷繞過(guò)程中吸水，導(dǎo)致零電壓、自放電、循環(huán)性能差；

辦法：計(jì)算露點(diǎn)值和溫度值得出溫濕度值；

2、粉塵控制≤100，000pc/ft3（測(cè)試粒徑為0.5um）

目的：戒備粉塵在卷繞時(shí)卷入極組導(dǎo)致電芯短路、過(guò)熱、起火、自放電等不良；

辦法：使用粉塵探測(cè)儀；

3、裁切毛刺異常

工藝要求：極片≤8um；極耳毛刺≤12um；測(cè)試方式：每班次每臺(tái)機(jī)首檢隨機(jī)抽取1PCS電芯解剖，按《毛刺測(cè)試作業(yè)指揮書(shū)》測(cè)試正、負(fù)極片前后端及正、負(fù)極耳裁切毛刺。

不良影響：極片或極耳毛刺超出工藝要求可能導(dǎo)致毛刺刺穿隔膜，使正負(fù)極短路，電芯出現(xiàn)過(guò)熱，嚴(yán)重時(shí)可能爆炸，存在嚴(yán)重安全隱患。

18650鋰離子電池卷繞步驟

4、正負(fù)極片傾覆差

工藝要求：正、負(fù)極片對(duì)齊度0.75?.55mm

負(fù)極片與隔膜對(duì)齊度1?.5mm

測(cè)試方式：換卷后抽檢繼續(xù)3PCS電芯按《X-RAY作業(yè)指揮書(shū)》測(cè)試對(duì)齊度不良影響：1）正負(fù)極片對(duì)齊度超出工藝規(guī)格可能造成負(fù)極片未包住正極片，在電芯充電過(guò)程中，使正極脫出的鋰離子無(wú)法找到對(duì)應(yīng)的石墨嵌入，造成電芯中有游離的鋰離子在負(fù)極上堆積出現(xiàn)枝晶，枝晶刺穿隔膜造成內(nèi)部短路而出現(xiàn)安全隱患。

2）負(fù)極片與隔膜對(duì)齊度超出工藝標(biāo)準(zhǔn)可能使負(fù)極片受到擠壓變形，極片上的負(fù)極料部分脫落，在充電過(guò)程中電芯膨脹，粉料刺穿隔膜導(dǎo)致正負(fù)極內(nèi)部短路而出現(xiàn)安全隱患；

5、卷繞方向極片傾覆差（外層負(fù)極超正極料長(zhǎng)、內(nèi)層負(fù)極超正極料長(zhǎng)）測(cè)試方式：每2H每臺(tái)卷繞機(jī)抽檢3PCS電芯解剖，分別用目鏡和直尺測(cè)量?jī)煞N傾覆差尺寸。

不良影響：可能造成負(fù)極片未包住正極片，在電芯充電過(guò)程中，使正極脫出的鋰離子無(wú)法找到對(duì)應(yīng)的石墨嵌入，造成電芯中有游離的鋰離子在負(fù)極上堆積出現(xiàn)枝晶，枝晶刺穿隔膜造成內(nèi)部短路而出現(xiàn)安全隱患。

18650鋰離子電池卷繞步驟

6、短路探測(cè)

參數(shù)設(shè)置（100V，25nF250V，

250uA）測(cè)試方式：每班首檢時(shí)用短路樣品探測(cè)機(jī)臺(tái)；不良影響：自放電、發(fā)熱、爆炸等短路因素：裁切顆粒、金屬粉塵、毛刺等造成隔膜破孔；