半片技術(shù)由于帶來(lái)了組件功率與可靠性的雙重提升，量產(chǎn)成熟度高，已成為主流組件企業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品。

組件在實(shí)際應(yīng)用中受到電池間差異、輻照、遮擋、老化等影響，使組件內(nèi)可能會(huì)出現(xiàn)電流失配的現(xiàn)象。雙面電池的出現(xiàn)，又進(jìn)一步使得電流失配的問(wèn)題相對(duì)更為嚴(yán)重。

實(shí)際上當(dāng)單片電池的短路電流發(fā)生變化時(shí)，組件最大功率點(diǎn)會(huì)發(fā)生移動(dòng)，并非單片電池短路電流降低多少，組件功率就相應(yīng)會(huì)損失多少，針對(duì)這一現(xiàn)象，我們建立了電路模型，分別對(duì)整片組件和半片組件電流失配時(shí)的功率損失做了分析。

考慮的模型如下圖：72片電池(或144半電池)組件受到的輻照為1000W/m2，組件中有一塊電池(或半電池)的Isc變?yōu)檎Ｖ档?5%，其余電池正常。

正常的及Isc降低5%的異常整片電池與半電池的電性能參數(shù)如下：

在仿真軟件中建立組件電路模型并帶入電池電參數(shù)，可以得到單電池異常對(duì)組件功率的影響（如下圖），

結(jié)果顯示，單塊電池的Isc和Imp下降5%后，整片組件的Imp下降了0.325%，半片組件的Imp下降了0.239%，Vmp還略有增加，使得功率損失分別為0.136%與0.073%。半片組件的失配損失僅為整片組件的約1/2，這是由于目前通用的半片組件版型組件的上、下兩部分是并聯(lián)關(guān)系，下半部分峰值工作電流的變化對(duì)上半部分沒(méi)有影響。

因此，即便下半部分存在幾個(gè)短路電流降低為正常值95%的電池，半片組件的功率損失比例也不會(huì)有明顯變化，半片組件相對(duì)整片組件在抗電流失配上有著優(yōu)勢(shì)明顯。

隆基于2018年推出Hi-MO 3半片雙面組件，就通過(guò)采用半片技術(shù)，將電池片切半，使電池工作電流減半，有效降低組件的封裝損失，組件功率平均提升5-10W。同時(shí)疊加雙面技術(shù)，組件雙面率大于75%。陰影遮擋時(shí)，Hi-MO 3比整片組件陣列具有更高的發(fā)電量。此外，Hi-MO 3產(chǎn)品還具有熱斑溫度更低等優(yōu)勢(shì)，為更低度電成本帶來(lái)全新的選擇。